Mezinárodní tým fyziků s českým zastoupením vyvinul novou metodu pro analýzu dat z mikroskopu atomárních sil. Díky ní mohou vědci na povrchu látek nejen spatřit jednotlivé atomy, ale také určit jejich chemickou podstatu. O svém objevu informují v prestižním časopise Nature.

Roku 1986 byl Nobelovou cenou za fyziku odměněn vynález řádkovacího tunelovacího mikroskopu. Ten umožnil vědcům zobrazit morfologii povrchu látek s atomárním rozlišením, vykreslovat jednotlivé atomy a také s nimi manipulovat.

Nevýhodou ale bylo, že tohoto zařízení pracovalo výhradně s elektricky vodivými materiály.

Pokrok přišel s vývojem mikroskopu atomárních sil, jenž umí mapovat libovolný povrch kovů i izolátorů v rozličných prostředích.

Přesto ani s tímto typem mikroskopu nebylo možné identifikovat jednotlivé atomy, to znamená určit zastoupení chemických prvků na povrchu zkoumaných vzorků.

To se vědcům podařilo až nyní díky práci výzkumného týmu složeného z expertů z Japonska, Španělska a České republiky, kterou zastupoval doktor Pavel Jelínek z Fyzikálního ústavu Akademie věd.

Vědci k identifikaci chemických prvků vyvinuli metodu zahrnující kombinaci experimentálních měření z mikroskopu atomárních sil, kvantověmechanických výpočtů a jednoduchého analytického modelu.

Jejich objev si najde široké uplatnění, vždyť po něčem podobném vědci prahli pár desítek let. Jmenovitě jistě půjde o pokroky v nanotechnologiích, v oblasti výroby dokonalejších čipů, také v molekulární biologii či vývoji vodíkového paliva pro automobilový průmysl.